Таблица 13-1. Список выводов для отладки и тестирования
| Название вывода |
Функциональное назначение |
Тип вывода |
Активный уровень |
| Сброс/Тестирование |
| NRST |
Сброс микроконтроллера |
Вход / Выход |
Низкий |
| TST |
Выбор режима тестирования |
Вход |
Высокий |
| Внутрисхемный эмулятор (ICE) и JTAG |
| TCK |
Тактовый сигнал |
Вход |
|
| TDI |
Вход последовательных данных |
Вход |
|
| TDO |
Выход последовательных данных |
Выход |
|
| TMS |
Выбор режима |
Вход |
|
| JTAGSEL |
Разрешение работы JTAG |
Вход |
|
| Модуль внутрисхемной отладки |
| DRXD |
Прием данных для отладки |
Вход |
|
| DTXD |
Передача данных для отладки |
Выход |
|
